恒奥德仪薄层成像仪的操作使用原理

恒奥德仪薄层成像仪的操作使用原理

主要基于‌薄层色谱（TLC）分离技术‌与‌光学成像检测技术‌的结合，用于对薄层板上分离后的化合物斑点进行‌定性、定量及图像分析‌。其核心原理和操作流程如下：

‌一、基本工作原理‌

‌分离原理‌：样品点在薄层板（固定相）上，通过流动相（溶剂）在毛细作用下展开，各组分因与固定相的吸附/分配能力差异而分离，形成不同Rf值的斑点。

‌检测原理‌：利用特定波长光源（如紫外、可见光）照射展开后的薄层板，通过检测斑点的：

‌吸收光‌（反射/透射吸收法）

‌荧光发射‌（荧光斑点）

‌荧光淬灭‌（暗斑）

由高分辨率CCD或CMOS相机捕获图像，再经专业软件分析斑点位置、强度、面积等参数，实现定量与可视化。

‌二、典型操作流程‌

‌样品制备‌

将待测样品溶解，用毛细管或自动点样器点于薄层板上，干燥后放入展开室。

‌薄层展开‌

在密闭展开缸中，流动相沿薄层板上升，带动样品组分分离。

‌上机成像‌

将展开并干燥的薄层板置于成像仪暗箱内中心位置。

安装对应光源（如254 nm / 365 nm紫外灯、白光灯），关闭舱门避免杂散光干扰。

‌参数设置‌

选择检测模式（反射/透射、吸收/荧光）。

设置波长、分辨率（通常20–200 μm/像素）、曝光时间、扫描区域。

‌图像采集‌

启动相机（如12位高线性CCD），在无闪光灯条件下拍摄图像，确保动态或静态成像清晰。

‌图像处理与分析‌

使用专用软件（如winCATS、Tstar、安卓App等）自动：

校正背景与色彩

标记斑点

计算Rf值、峰面积、百分含量