了解 XRF 测试中铅的干扰因素

摘要 

XOS 软件旨在对样品的基体效应做出准确响应。然而，和任何分析技术一样，总有一些样品对 XRF 来说具有特别的挑战性，一般是由于材料的密度和/或元素的组成。本文件讨论了光谱干扰的一般成因，对涉及到检测和定量测量各种均匀样品基体中铅（Pb）含量时所碰到的常见问题做出了回答 

是什么原因导致铅的测量浓度偏高和检测限（LOD）的增加？ 

元素干扰可能会导致铅的测量结果偏高，这是由于激发能出现了重叠问题。这种重叠有可能由以下三种情况中的一种或多种引起： 

■ 发射谱线直接重合：例如，砷（As）的 Ka 发射能为10.54 keV，而 Pb的La 发射能几乎一样，是10.55 keV。任何和 Pb 发射能接近的元素都有可能造成铅的测试值偏高。具体请参见第二页周期表中列出的特征发射值。 

■ 叠加峰与发射谱线相重合：当检测器将两个或者更多的光子作为一个光子进行计数时，就会出现叠加峰。叠加峰对基体中具有高强度 X发射谱线的主要元素的影响特别明显。叠加峰可能会和其他元素的发射谱线重合，比如铁（Fe）叠加峰的数值（12.8 keV)）就和铅的Lß（12.61 keV）发射谱线出现了重合。 

■ 在特定条件下的发射谱线干扰：有些发射谱线的干扰只有在某种元素的浓度特别高时才会发生。主要元素的能量分布值过高，会小幅提高相邻元素的检出限。 

在塑料基底中是否有内在的铅干扰因素？ 

聚合物内没有内在的干扰因素，因为其大部分的组成成分是有机的，而 XRF 检测对有机部分没有响应。聚合物的基底干扰可能来自于基底中的其他元素，这些元素的特性已经在上一节中做了说明。通常，聚合物基底中 Pb 的主要干扰因素是高浓度的溴（Br）或铋（Bi），如图1 所示。 

在金属基底中是否有内在的铅干扰因素？ 

含有 As的 Fe 样品会增加Pb 的LOD，并可能导致测量结果出现错误，因为Fe的叠加峰的存在，还有 As的发射谱线出现了直接重合，如图2 所示。如果 Fe基底选用的是含有大量铬（Cr）的不锈钢，那么会进一步提高铅的 LOD，这是因为由于 Cr也有叠加峰，还有As的Kß 发射谱线和Fe 的重合了。 

XOS检测仪，产品主要用于石油、工业和市政废水以及土壤中的重金属检测，包括硫，铅，砷，镉，锌等多达几十种元素，无论是单一元素还是多元素检测，客户只需一键操作就能获得的测量结果，分析快速。分析仪无需试剂和化学消耗品以及样品预处理，方便快捷。