纵波双晶直探头由两个纵波探头组合而成,两个晶片之间有一个吸声性强、绝缘性好的隔声层,将发射电路和接收电路分割开来,从而克服了发射声波和回波的相互干扰和阻塞,使脉冲变窄,分辨力提高,还消除了发射晶片和延迟块之间的反射杂波进入接收晶片,从而减少了杂波。双晶探头常用于薄壁材料的腐蚀,点蚀和厚度测量。超薄件检测时,一个很好的近表面分辨率是必要的。纵波双晶直探头具有聚焦能力,近表面盲区小,检测精度高。
双晶直探头特点
- 合理声匹配叠层设计,灵敏度更高,性噪比更高
- 晶片大小、形状、焦距均可按需设计,满足各种检测需求
- 相比单晶斜探头,具备更高的近场信噪比
双晶直探头定制:
- 加装有机玻璃楔块/耐高温材料楔块
- 用于粗糙表面的聚氨酯可更换膜
- 干燥耦合的应用的硅橡胶楔块
- 不同阻尼设计可用于特定测量
- 填充耦合剂的软保护膜
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