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介质损耗测试仪的原理结构

来源:上海米远电气有限公司   2013年07月17日 23:48  

介质损耗测试仪的原理结构

质损耗测试仪抗*力强,能适用于各种场所。

仪器为升压与测量一体化结构,输出电压2.5KV~10KV五档可调,以适应各种需要,在测量时无需任何外部设备。接线与QSI电桥相似,但比其方便。

仪器测量线路包括一路标准回路和一路测试回路标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成,由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差,并由之算出被测试品电容容值(CX)和其介质损耗(tgδ)。

 

数据采集电路全部采用高压稳定器件,采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽,仪器外壳地屏蔽;另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术,加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理,使测量结果稳定、、可靠。

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