普通LCR测试仪的使用方法

普通LCR测试仪的使用方法

         用LCR测试仪来测量零部件的参数时，其关键问题在于测量误差。首先是LCR测试仪本身的内部误差，还存在各种各样的原因，而与试样的连接所引起的误差，就是其中之一。由于LCR测试仪的型号不同，可能的连接方法也会有区别，在此我们整理一下五种连接方法的各自特点。一般来说，连接方法越麻烦，越能准确地进行测量。

广泛的测量对象

　　无源元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。

　　半导体元件：电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。

　　其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。

　　介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数的损耗角评估。

　　磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。

　　半导体材料：半导体材料的介电常数,导电率和C-V特性。

　　液晶材料：液晶单元的介电子常数、弹性常数等C-V特性。