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TK-100 vs TE-660:TEKHNE露点仪怎么选?

来源:秋山科技(东莞)有限公司   2025年07月25日 17:42  

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在选择TEKHNE露点仪时,TK-100和TE-660是两个核心系列,分别针对不同的工业测量需求。以下是两者的关键对比及选型建议:

1. 核心差异概览

对比维度TK-100系列TE-660系列
测量范围-100°C ~ +20°C dp-60°C ~ +20°C dp
传感器技术陶瓷传感器(xin技术)聚合物薄膜传感器
核心优势超低露点测量(<-50°Cdp)快速响应、一体化设计
典型型号TK-100 NK-I(带干燥室)TE-660 NE(内置采样系统)
适用场景半导体、空分装置、超高纯气体压缩空气、SF6检测、工业流程监测

2. 详细技术对比

(1) 测量范围与精度

  • TK-100:

    • 覆盖-100°Cdp的干燥环境,适合超高纯气体(如半导体制造用氮气)。

    • 精度±2°Cdp,但在-50°Cdp以下表现更稳定(干燥室系统提升响应速度)。

  • TE-660:

    • 下限为-60°Cdp,适合常规工业气体(如压缩空气、SF6)。

    • 相同精度(±2°Cdp),但在-20°Cdp以上响应更快(聚合物传感器特性)。

(2) 传感器与响应速度

  • TK-100:

    • 陶瓷传感器耐长期漂移(<0.5°Cdp/年),但初始响应较慢(需干燥室预热)。

  • TE-660:

    • 聚合物传感器在15秒内可响应露点变化,适合快速巡检。

(3) 设计与便携性

  • TK-100 NK-I型:

    • 超轻(0.8kg),AA电池供电(15小时续航),适合野外或无电源环境。

  • TE-660 NE型:

    • 内置过滤器、流量计,无需外接预处理,但重量稍大(3.5kg)。

(4) 扩展功能

  • TE-660支持4-20mA/Modbus输出,可集成到控制系统;TK-100专注便携测量,无信号输出功能。

3. 选型建议

选择TK-100系列若:

  • 需要测量-80°Cdp以下的超低露点(如半导体光刻气体)。

  • 长期稳定性优先(如空分装置连续监测)。

  • 场景需防爆(可选TK-100TR-EX型号)。

选择TE-660系列若:

  • 测量-60°Cdp以上(如压缩空气、塑料干燥机)。

  • 要求快速响应(如SF6开关水分检测)。

  • 需要一体化设计,减少外接配件。

经济性考量

  • TK-100初始成本较高,但维护简单(年换干燥剂);

  • TE-660需定期更换过滤器(每6个月),但操作更便捷。

4. 总结

  • 干燥选TK-100,常规工业选TE-660。

  • 若预算有限且无需超低露点,TE-660HD分体式型号更经济。


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