在选择TEKHNE露点仪时,TK-100和TE-660是两个核心系列,分别针对不同的工业测量需求。以下是两者的关键对比及选型建议:
1. 核心差异概览
对比维度 | TK-100系列 | TE-660系列 |
---|---|---|
测量范围 | -100°C ~ +20°C dp | -60°C ~ +20°C dp |
传感器技术 | 陶瓷传感器(xin技术) | 聚合物薄膜传感器 |
核心优势 | 超低露点测量(<-50°Cdp) | 快速响应、一体化设计 |
典型型号 | TK-100 NK-I(带干燥室) | TE-660 NE(内置采样系统) |
适用场景 | 半导体、空分装置、超高纯气体 | 压缩空气、SF6检测、工业流程监测 |
2. 详细技术对比
(1) 测量范围与精度
TK-100:
覆盖-100°Cdp的干燥环境,适合超高纯气体(如半导体制造用氮气)。
精度±2°Cdp,但在-50°Cdp以下表现更稳定(干燥室系统提升响应速度)。
TE-660:
下限为-60°Cdp,适合常规工业气体(如压缩空气、SF6)。
相同精度(±2°Cdp),但在-20°Cdp以上响应更快(聚合物传感器特性)。
(2) 传感器与响应速度
TK-100:
陶瓷传感器耐长期漂移(<0.5°Cdp/年),但初始响应较慢(需干燥室预热)。
TE-660:
聚合物传感器在15秒内可响应露点变化,适合快速巡检。
(3) 设计与便携性
TK-100 NK-I型:
超轻(0.8kg),AA电池供电(15小时续航),适合野外或无电源环境。
TE-660 NE型:
内置过滤器、流量计,无需外接预处理,但重量稍大(3.5kg)。
(4) 扩展功能
TE-660支持4-20mA/Modbus输出,可集成到控制系统;TK-100专注便携测量,无信号输出功能。
3. 选型建议
选择TK-100系列若:
需要测量-80°Cdp以下的超低露点(如半导体光刻气体)。
长期稳定性优先(如空分装置连续监测)。
场景需防爆(可选TK-100TR-EX型号)。
选择TE-660系列若:
测量-60°Cdp以上(如压缩空气、塑料干燥机)。
要求快速响应(如SF6开关水分检测)。
需要一体化设计,减少外接配件。
经济性考量
TK-100初始成本较高,但维护简单(年换干燥剂);
TE-660需定期更换过滤器(每6个月),但操作更便捷。
4. 总结
干燥选TK-100,常规工业选TE-660。
若预算有限且无需超低露点,TE-660HD分体式型号更经济。
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