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菲希尔X-ray系列测厚仪信息

来源:无锡骏展仪器有限责任公司   2025年07月25日 09:47  
德国菲希尔 FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM 系列 X 射线荧光镀层测厚与材料分析仪,是一款通用性强的能量色散 X 射线光谱仪。该系列作为成熟的 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4 模型系列的升级产品,延续了前代设备的核心优势,尤其适用于无损厚度测量、薄涂层分析,以及批量生产零件和印制板的自动化测量。


该系列包含三个型号:


  • XDLM 231 配备平面支撑台;

  • XDLM 232 搭载手动操作的 X/Y 台;

  • XDLM 237 则配备电动 X/Y 平台,当防护罩开启时,平台会自动移动至装载位置,操作更为便捷。

应用实例

XDLM 测量系统在接插件和触点的镀层测量中应用广泛,可精准检测各类基材上的 Au/Ni、Au/PdNi/Ni、Ag/Ni 或 Sn/Ni 等镀层厚度。由于这类产品的功能区多为细小结构(如凹槽、突起等),测量时需搭配小尺寸准直器或适配样品形状的专用准直器。例如,针对椭圆形样品,采用开槽准直器可有效提升信号强度,确保测量精度。


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