使用Agilent 5110 VDV ICP-OES 对空气 过滤器进行多元素分析

监测工作场所空气质量的常规方法已经开发出测定空气样品中金属和类金属污染物的标准方法。本研究采用 ICP-OES对通过微波消解制备的过滤介质中的 44 种元素进行定量分析。这些元素是标准方法HJ 777-2015、ISO 15202 和 ASTM D7035-16 中列出的元素。Agilent 5110 VDV ICP-OES 配备 AVS 7 切换阀和 SPS 4 自动进样器。样品间分析时间为 63 秒，且每个样品仅消耗 21 L 氩气。为实现更低的检测限，对所有元素均使用轴向等离子体观测。使用轴向观测可能会导致需要校正复杂的背景结构。

自动化干扰校正将自动化拟合背景校正 (FBC) 和快速自动曲线拟合技术 (FACT) 建模技术结合使用来校正复杂的背景结构（图 1）。FBC 能够准确校正简单及复杂的背景结构，且无需进行方法开发。FACT 可校正等离子体中的光谱干扰并对复杂的背景结构建模。

标准物质分析方法 DL（表 1）均明显低于 HJ 777-2015、ISO 15202 和 ASTMD7035-16 中规定的 MDL。CRM QC-TMFM-D 和 QC-TMFM-G均购自美国 High Purity Standards。表 1 显示这些 CRM 的结果都在预期回收率的 ±10% 以内。向样品中加标低浓度的各种元素，以确定回收率。如表 1 所示，这些回收率均在预期值的±10% 以内。

长期稳定性为证明 5110 ICP-OES 在长时间运行中的稳定性和精密度，在 6 小时内分析大约 350 份溶液（图 2）。每 10 个样品后测量一次 QC 溶液。所有元素的结果显示：- 回收率在 ±10% 以内- RSD 小于 2.1%（Te 除外，其 RSD 为 4%）

结论使用配备 AVS 7 切换阀的 Agilent 5110 VDV ICP-OES 能够对过滤介质中的金属进行准确的常规测量。AVS 7 和 VistaChip II 可提高分析效率，并在长时间运行中保持优异的稳定性，同时大幅减少氩气消耗量和样品间分析时间。自动化校正技术 FBC 和 FACT，可简化方法开发并准确校正背景和光谱干扰。