工作原理
当测厚仪的探测头放置在被测覆层表面时,探测头中的磁场产生磁感应,磁感应穿透覆层并进入基材。由于被覆层的磁导率与基材的磁导率不同,会产生不同的磁感应。
测厚仪通过探测头检测到的磁感应信号,经过信号处理和分析后,计算出覆层的厚度。
特点
测量精度高:采用可靠的传感器和信号处理技术,能满足对覆层厚度精度要求较高的应用场景,如 FMP10 的 FGA1.3 探头在 0-50μm 范围内测量精度可达 0.25μm。
功能多样:可测量各种类型的覆层,包括金属涂层、漆膜、镀层等。还具备多种测量模式,如连续测量模式、矩阵测量模式、区域测量模式、自动测量模式等。
操作简便:仪器操作界面友好,开机后即可测量 / 插入探头即可测量,通过简单的零位修正就能适应底材形状,校准也较为简便,使用一到两片箔片即可。
数据管理便捷:具有数据记录和分析功能,可以记录测量数据并进行数据分析。配备 USB 接口,可以连接计算机,部分型号如 FMP30-40 还可以连接打印机,搭配专用软件可生成图文报告,满足质量追溯与合规性要求。
非破坏性测量:采用无接触式测量方式,对被测材料不会产生任何破坏,保证了被测材料的完整性和安全性。
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