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倒置金相显微镜在材料分析中，偏振光与微分干涉（DIC）技术具有的应用价值。
偏振光观察主要应用于鉴别具有双折射特性的物质，在材料分析中，它能帮助观察金属磨面的反射特性。在偏振光下，金属的组成相虽不透明，但通过磨面反射规律可进行观察与鉴别。例如，各向同性不透明夹杂物在正交偏振光下呈黑暗一片，而各向异性透明夹杂物则可观察到包括体色和表色组成的色彩。此外，偏振光还可用于观察透明球状夹杂物的黑十字效应及等色环，这些效应与物相的形状和光学特性密切相关。
微分干涉（DIC）技术则是一种基于相干光干涉现象的显微镜光学对比技术。在倒置金相显微镜中，DIC技术通过落射照明方式，利用起偏器、检偏器和DIC棱镜，将样品表面形貌的变化转化为光程差，从而形成具有强立体感和浮雕效果的图像。DIC技术对金相样品的制备要求较低，甚至只需抛光而不必腐蚀处理即可进行观察。它能够突出样品各组成相间的相对层次关系，增加各相间的反差，使颗粒、裂纹、孔洞以及凸起等细节更加清晰可见。在材料科学、半导体工业、精密机械制造等领域，DIC技术已成为一种重要的检测手段，能够观察到明场下难以判别的结构细节或缺陷，提高检验准确性。
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