普泰克车规级芯片温度测试使用说明

车规级芯片温度测试使用说明

一、测试目的

二、测试设备与工具

1. 高低温试验箱

• 温度范围：-40℃ ~ +150℃（需覆盖车规级芯片的工作温度区间）。

• 精度：±0.5℃（温度控制），±2℃（均匀性）。

2. 电源供应器

• 提供稳定的电压输入，精度≥0.1%。

3. 数据采集设备

• 示波器、逻辑分析仪：监测芯片信号完整性、时序特性。

• 万用表：测量芯片功耗、引脚电压等参数。

4. 测试夹具

• 适配芯片封装的 socket 或探针台，确保电气连接稳定。

5. 辅助工具

• 热电偶 / 温度传感器：实时监测芯片表面温度。

• 热成像仪：辅助分析芯片热分布（可选）。

三、测试准备

1. 芯片预处理

• 检查芯片外观是否有损伤、引脚氧化等问题。

• 按规格书要求焊接或安装至测试夹具。

2. 设备校准

• 提前校准高低温试验箱、传感器等设备，确保数据准确性。

3. 测试程序加载

• 导入芯片功能测试程序（如烧录固件、配置测试向量）。

4. 环境设置

• 低温：-40℃、-25℃

• 常温：25℃

• 高温：85℃、105℃、125℃

• 根据测试等级（如 Class 1、Class 2 等）设定目标温度点，常见温度点包括：

四、测试流程

1. 初始检测（常温）

• 将芯片置于 25℃环境中，通电测试其基本功能、电气参数（如供电电流、I/O 电平、时钟频率等），记录初始数据。

2. 低温测试

• 降温阶段：以≤5℃/min 的速率将试验箱温度降至目标低温（如 - 40℃），稳定至少 1 小时（确保芯片热平衡）。

• 测试阶段：保持低温环境，重复功能测试和电气参数测量，观察芯片是否出现异常（如功能失效、信号畸变、功耗异常等）。

3. 高温测试

• 升温阶段：以≤5℃/min 的速率将试验箱温度升至目标高温（如 125℃），稳定至少 1 小时。

• 测试阶段：保持高温环境，重复功能测试和电气参数测量，记录数据并分析稳定性。

4. 温度循环测试（可选）

• 按设定的循环曲线（如 - 40℃→125℃，循环次数≥100 次）进行高低温交替测试，每次循环中保持温度至少 30 分钟，检测芯片在热应力下的耐久性。

5. 恢复检测（常温）

• 测试结束后，将芯片返回常温环境，再次进行功能和参数测试，确认是否因温度影响导致性损伤。

五、测试标准与判定规则

1. 功能要求

• 芯片在全温度范围内应能正常启动，完成指定功能（如通信、计算、控制等），无死机、复位异常或逻辑错误。

2. 电气参数要求

• 关键参数（如供电电压、时钟频率、信号延迟等）需符合规格书规定的温度漂移范围（如 ±5% 以内）。

3. 失效判定

• 功能失效或间歇性故障。

• 电气参数超出规格书允许范围。

• 芯片物理损坏（如封装开裂、引脚脱落等）。

• 出现以下情况视为测试不通过：

六、注意事项

1. 安全操作

• 高温环境下避免直接接触试验箱内部，防止烫伤。

• 确保设备接地良好，避免静电损坏芯片。

2. 数据记录

• 详细记录每个温度点的测试时间、环境参数、测试结果及异常现象。

• 保存原始数据（如示波器波形、日志文件等）以备追溯。

3. 环境一致性

• 测试过程中避免打开试验箱门，防止温度波动影响结果。

• 若中途暂停测试，需记录当前状态并重新平衡温度后再继续。

七、测试报告

• 测试样品信息（型号、批次、数量等）。

• 测试条件（温度点、持续时间、测试项目）。

• 原始数据与分析结果（对比规格书要求）。

• 结论（是否通过测试，失效模式及改进建议）。