泰勒霍普森表面粗糙度仪DUO测量信息

测量原理

DUO 粗糙度仪运用接触式测量原理，配备耐磨的金刚石测针部件与精密的机动驱动装置。仪器运行时，测针在电机驱动下，以稳定速度于被测物体表面移动，以此确保行进正确的水平距离。当测针划过表面波峰与波谷时，高感应度的压电传感器能够敏锐捕捉测针的垂直移动，并将机械移动转化为电子信号。这些电子信号经数字化处理后，被传送至微处理器，运用标准化算法即时计算出表面粗糙度参数。该测量方式不仅保障了测量的准确性，其坚固耐磨的金刚石测针与压电传感器组合，还确保了测量结果具备较高可靠性，能适应多种复杂测量场景。

DUO 粗糙度仪功能较为全面，只需轻松按下一键，就能快速测量多个关键的表面粗糙度参数，如 Ra（轮廓算术平均偏差）、Rz（微观不平度十点高度）、Rp（轮廓最大峰高）、Rv（轮廓最大谷深）以及 Rt（轮廓最大高度）等。这些参数会清晰地显示在仪器配备的 2.4 英寸直观 LCD 彩色屏幕上，屏幕显示亮度较高，即便在不同光线环境下，使用者也能清楚读取测量数据，为现场测量工作带来极大便利。