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FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD菲希尔X射线测厚仪是Fischer产品组合中X射线荧光仪器之⼀。这台XRF光谱仪配备了⾼分辨率和强⼤的硅漂移探测器 (SDD) ，其 涂层--例如，引线框架上约 2nm 厚的⾦镀层。 结合内部开发的新数字脉冲处理器DPP+，您可以将您的测量性能提⾼到⼀个新的⽔平。现在可以处理更⾼的计数率，从⽽缩短测量时间或提⾼测量结果的重复 如，它对塑料中的微量铅的检测灵敏度约为2ppm - ⽐RoHS或CPSIA中要求的数值低⼏个数量级。 为了给每个XRF涂层厚度测量创造理想的条件，XDV-SDD有可切换的准直器和初级滤波器，可以⼯作在科学的状态下。这款极其坚固的设备，有直观的控制⾯ 试⽽设计。
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