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FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230比例接收器能实现计数率
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230由于采用了FISCHER基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
| 通用规格 | |
| 设计用途 | 能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪（EDXPF），用于测定镀层和溶液分析。 |
| 元素范围 | 从元素氯（17）到铀（92） |
| 配有可选的WinFTM®BASIC软件时，可同时测定24种元素 | |
| 设计理念 | 台式仪器，测量门向上开启 |
| 测量方向 | 由上往下 |
| X射线源 | |
| X射线管 | 带铍窗口的钨管 |
| 高压 | 三档：30KV，40KV，50KV |
| 孔径（准直器） | φ0.3mm 可选：φ0.1mm；φ0.2mm；长方形0.3mm x 0.05mm |
| 测量点尺寸 | 取决于测量距离及使用的准直器大小 |
| 实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致 | |
| 小的测量点大小约φ0.2mm | |
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