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菲希尔X-RAY镀层测厚仪用途：
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM231可用于测量所有金属镀层的厚度以及多镀层或者合金成分分析，也可以进行电解溶液含量成份分析，带有国家环保局豁免证书，无放射源设计，安全环保。菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM231主要用于微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层测量、分析。
菲希尔X-RAY镀层测厚仪典型的应用领域有：
1、测量大规模生产的电镀零部件；
2、测量微小区域上的薄镀层；
3、测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层；
4、全自动测量，如测量印刷线路板。
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