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FISCHERSCOPE X-RAY XDL230菲希尔X射线测厚仪是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。该仪器具备以下显著优势：
应用领域广泛：适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时可检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
性能稳定可靠：拥有良好的长期稳定性，大幅减少仪器校准频率；比例接收器实现高计数率，保障高精度测量。
测量方法先进：采用FISCHER基本参数法，无论是镀层系统，还是固体和液体样品，无需标准片即可进行测量和分析。
菲希尔代理FISCHERSCOPE X-RAY XDL230产品应用
测量大规模生产的电镀部件
测量超薄镀层，例如装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
测量印刷线路板
分析电镀溶液
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