菲希尔荧光测厚仪XULM240的测量原理信息

菲希尔荧光测厚仪 XULM240 基于 X 射线荧光光谱分析原理来测量镀层厚度，具体如下：

X 射线激发：仪器中的微聚焦 X 射线管产生高强度的 X 射线束，当 X 射线照射到被测样品表面时，会激发样品中的原子。对于镀层和基体材料，由于它们的原子种类不同，原子结构也存在差异。

荧光产生：被激发的原子会从高能级跃迁到低能级，同时辐射出具有特定能量和波长的 X 射线荧光。不同元素发出的荧光 X 射线具有特的能量特征，就像人的指纹一样，是每种元素所有的。例如，金元素发出的荧光 X 射线能量与铜元素、镍元素等发出的能量是不同的。

测量与分析：探测器收集并测量这些荧光 X 射线的能量和强度。根据不同元素荧光 X 射线的能量可以确定样品中存在的元素种类，而荧光 X 射线的强度则与该元素在样品中的含量有关。对于镀层厚度的测量，通过测量镀层元素和基体元素荧光 X 射线的强度，并与已知厚度的标准样品进行对比，再利用特定的算法和校准曲线，就可以精确计算出镀层的厚度。

这种测量原理具有非接触、无损的优点，能够快速、准确地测量各种材料表面的镀层厚度，并且可以同时分析多种元素，适用于不同类型的镀层和基体材料组合，在工业生产和质量控制中具有广泛的应用。