菲希尔X射线测厚仪分析信息

菲希尔 X 射线荧光镀层测厚仪基于 X 射线荧光分析原理。当仪器发射的 X 射线照射到样品表面时，镀层及基体材料中的原子会吸收 X 射线的能量，使内层电子被激发并跃迁到高能级。当这些电子回到低能级时，会释放出具有特定能量的荧光 X 射线。不同元素发射的荧光 X 射线能量不同，通过检测这些荧光 X 射线的能量和强度，结合仪器内置的校准曲线和算法，就可以精确测量出镀层的厚度以及元素组成。

一）高精度测量

菲希尔 X 射线荧光镀层测厚仪采用先进的探测器和信号处理技术，能够实现对镀层厚度的高精度测量。其测量精度可以达到微米甚至纳米级别，能够满足各种精密工业生产的需求。例如，在电子元器件制造中，对于芯片引脚的镀镍、镀金层厚度的测量，能够确保镀层厚度均匀且符合设计要求，从而提高电子元器件的性能和可靠性。

（二）多元素分析

该仪器不仅可以测量镀层厚度，还能够同时分析镀层中的多种元素及其含量。通过对元素组成的分析，可以判断镀层的质量和成分是否符合标准。比如在珠宝制造行业，通过分析金银饰品表面镀层中的元素成分，可以检测出是否存在杂质或其他合金元素，确保产品的纯度和质量。

（三）非接触式测量

采用非接触式测量方式，不会对样品表面造成损伤，适用于各种形状和尺寸的样品。无论是平面、曲面还是不规则形状的工件，都可以进行准确测量。这在汽车制造、航空航天等行业中具有重要意义，因为这些行业的零部件往往具有复杂的形状和高精度的要求。