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菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM240仪器特点
用途广泛的镀层厚度测量
通过组合高压和滤片，可精准测量极薄（如50 nm Au）至较厚（如100 μm Sn）的镀层，覆盖多种厚度需求 。
高精度微聚焦技术
配备微聚焦X射线管，最小测量点可达100 μm，适用于微小结构（如连接器、触点）的精细检测 。
高效计数率与稳定性
比例计数器支持高达数千cps（每秒计数率），确保快速测量和良好的重复精度，即使短时间测量也能保证结果可靠性 。
便捷的样品放置设计
X射线源位于测量舱底部，射线方向从下至上，结合大容量C型开槽舱体，便于放置大尺寸或扁平样品（如印刷线路板） 。
灵活的测量配置
支持手动或自动切换准直器与滤片，适应不同镀层材料和结构（如多层镀层、同元素镀种）
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