X荧光光谱仪特点

　　1. X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
2. 分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
3. X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分 辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。
4. 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
5. 制样简单，固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
6. 分析精密度高。

我公司主打X荧光光谱仪：能量色散型X射线荧光光谱仪EDX-GP，此款产品有以下几大优点：

1. 可以替代传统的ICP测试方法.
2. 大型样品仓：zui大可装370mm×320mm×155mm的样品.
3. 适应固体、液体、粉体、薄膜等各种类型的样品.
4. 无需前处理,非破环性,快速分析（30秒～5分钟）;
5. 准确的定性分析；元素测定范围宽从Na11～U92;
6. 的定量分析,根据不同元素.可到1.7PPM～3.7PPM;
7. 配置高计数率电路,增加检测器的计数量.
8. 配置新型滤光片,提高Pb、Cd等的灵敏度提高2倍.
9. 增加自动工作曲线选择功能,依据识别样品种类的不同而选择zui适宜的工作曲线.
10. 增加时间缩短功能,由荧光X射线强度算出测定精度,自动判断所需zui少测定时间.