如何使用石英晶体微天平进行高精度质量测量？

来源：美国Gamry电化学 2025年04月13日 16:08

　　石英晶体微天平是一种灵敏度较高的质量检测仪器，测量精度可达纳克级，能满足众多领域对微小质量变化的高精度测量需求。

　　使用石英晶体微天平进行高精度质量测量，准备工作至关重要。先要选择合适的微天平，不同型号和品牌的微天平性能、精度和适用范围有所差异，需根据实际测量需求来挑选。

　　其次是选择合适的石英晶片。通常兼容不同尺寸和覆盖材料薄膜的石英晶片，有金、ITO导电玻璃等覆盖多种材料薄膜的石英晶片可供选择。样品制备也很关键，样品需均匀地涂布在电极表面，才能获得重复性、再现性好的测量结果。制样方法以真空镀膜为优，其次是喷雾和电镀。

　　测量过程中，要确保仪器处于稳定的工作环境，避免温度、湿度、振动等外界因素干扰。将制备好的石英晶片安装到微天平的探头部位，连接好仪器，开启电源，让仪器预热一段时间，使仪器达到稳定的工作状态。

　　在QCM测试的同时，可同步进行电化学扫描，还能控制温度。使用配套的控制软件设置测量参数，包括测量时间、测量频率等。开始测量后，软件会实时记录石英晶体振荡电路输出电信号的频率变化，根据石英晶体的固有振动频率与晶体上物质加质量后振动频率的变化成正比例关系，将频率变化转化为质量变化数据。

　　测量结束后，对获得的数据进行分析处理。根据测量目的，计算出样品的质量变化、吸附层厚度变化等信息。

　　同时，要对测量结果的准确性和可靠性进行评估，若存在误差，需分析误差产生的原因，并采取相应的措施进行改进。

　　使用石英晶体微天平进行高精度质量测量，需要做好充分的准备工作，严格按照操作步骤进行测量，并对测量数据进行科学分析，才能获得准确可靠的测量结果。

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