利用红外显微镜检测和鉴定制造工艺 中的污染物

引言：

制造过程所设计创造的产品只包含所需的 组件。有时外物可能作为污染物出现在最终 的产品上，而这种意外的污染影响产品质 量,甚至导致产品不合格。调查需要确定污是什么,来自哪里。红外光谱法是主要的鉴别材料属性的分析技术之一。如果污 染物是足够大,肉眼可见那么简单(宏观)，则可以在样品上直接进行红外测量。然 而，在许多行业微小的污染物就会导致产品问题，例如电子行业和聚合物行业。 显微红外可以检测、分析和鉴别小到几微米的样品，是解决这类问题的理想的工 具。一系列显微红外测试模式(透射、镜面反射和衰减全反射（ATR）)可以测量各 种类型污染物样品的光谱。

本应用阐述了自动显微红外Spotlight TM 200i 系统在成品样品中检测和测量不同 类型污染物的使用情况。

自动检测和分析电子接触中的污染物 电子接触为避免在运行中出现问题，要求干净、无污染。 提交样本进行分析，可见污染物。样品被放置在Spotlight 200i的样品台上，在软件中选择“Visible Image Survey”来 收集全部的信息。如图1所示。图1中放大框部分，是运用 Spectrum 10软件中的“Detect Particles”功能查到的污染 物粒子的结果。 

药片中的纤维污染物 观察药片，在表面似乎可见污染物。但是不清楚这个污 染物来自哪里，是在制剂过程中或是后面的外部污染。 将样品放置在Spotlight 200i的样品台上，用反射模式观 察其可见图像，如图3可见纤维物。图像显示，大部分纤 维嵌入在药片表面以下，因此不可能是简单的加工后表 面污染陷入。 2

谱图中还包含一种辅料—微晶纤维素的有光谱特征峰（在 3400cm-1附近有羟基的宽吸收峰；在1020cm-1处有C-O吸 收峰）。然而在用混合物检索功能获得的显微材料被鉴定 为聚氯乙烯，如图6所示