OmniScan X4相控阵探伤仪应用

OmniScan X4相控阵探伤仪应用|启航检测科技（上海）有限公司提供良好的解决方案

有意义的图像

更快更果断地做决定

除了相控阵超声波测试技术，所有OmniScan X4型号都标配相位

相干成像（PCI）、全聚焦法（TFM）和平面波成像（PWI），以及它们的易用性

使新用户更容易访问它们。使用多种工具提供有关适应症的更多信息

增加你对评估的信心。

查看Phase的更多详细信息

相干成像

识别和解释具有挑战性的缺陷，如钩子

利用PCI的容量进行果断有效的破解

清晰地表示难以检测的缺陷。使

对诸如应力等细微缺陷的准确评估

腐蚀开裂（SCC），因为基于相的PCI是远

较不容易受到相邻缺陷的衰减

amplitude-based技术。因为衍射

SCC是由PCI加重，你可以更容易

描述每个裂缝的深度并利用该软件

盖茨能够迅速找出最深层的缺陷。

高达3倍更快的TFM

利用酥脆提高你的工作效率

TFM提供的定义甚至焦点。根据

在配置中，OmniScan X4系列的TFM已启动

比它的前身（omnican）快三倍

X3 64模型)时使用稀疏射击模式。

双面焊缝检验

双TFM和PCI

给你的焊接证明了一个效率提高使用双胞胎

TFM和PCI。利用PCI和的各个属性

TFM要调查焊缝的体积

双方同时进行。使用安装的两个探头

在我们的AxSEAM™长缝扫描仪上，

您可以在一次传递中生成清晰的TFM和PCI结果。