YP-150I半导体晶圆表面缺陷检查灯原理应用

YP-150I半导体晶圆表面缺陷检查灯原理应用

表面瑕疵灯用于人工检测工件表面灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵点。

检测原理是：利用适合的LED 灯源，通过光学透镜和滤光片折射出特殊的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作员肉眼可识别出工件表面的瑕疵。

YP-150I 表面检查灯 YP-250I

基本信息高强度卤素光源装置

超精密平面检测的理想选择！通过惊人的照明，可以检测小于 0.2 μm 的缺陷。

“YP-150I”是一种用于显微观察的照明装置

用于检测最终成品表面上的各种缺陷，如异物、划痕、抛光不均匀、雾度、滑移等，是半导体加工过程中劳动强度的一种。观察晶圆和液晶板、玻璃表面、部件表面的瑕疵，广泛应用于镜片、液晶玻璃、手机屏幕、汽车玻璃，晶圆片、模具、汽车、手机保护膜、柔性基板、网版丝印等行业

表面的照度可超过 400,000 Lx。

另外，由于采用卤素灯作为光源，色温高，

光照不均匀的情况很少，光照强度稳定锐利。

姊妹机“YP-250I”也可用于 8 英寸。

■ 光源采用卤素灯

■ 可以将样品表面照射到400,000 Lx或更高

■ 热量的影响降低到传统铝镜的1/3

■ 高照度观察和低照度观察可一键切换

请用于超精密平面检测！

高亮度卤素光源装置“YP-250I”是用于检测划痕、抛光不均匀、雾度和滑移等各种缺陷的微观察照明装置。

采用卤素灯作为光源，色温高，减少照明不均，照明***稳定锐利。

此外，本机为“YP-150I”的姊妹机，有螺旋桨风机型和管道风机型可供选择，可根据应用进行使用。

YP-150I，可精确检查到1um 以下的刮痕或微粒子，几乎可检测出所有尘埃。我们有不同强度及样式的表面瑕疵检测灯，如果是测试要求比较高的大半导体厂，可使用强度为30万LX以上的检查灯，如果是测试要求没那么高的一般封测厂，可采用光源强度达 5万LX的检查灯。检测灯使用寿命为2万小时以上，比传统的检查灯寿命长且效用增强 10 倍。