高精度X射线荧光分析仪分析步骤

来源：苏州佳谱科技有限公司 2024年05月31日 21:37

高精度X射线荧光分析仪的分析步骤：

一、样品准备

样品要求：样品应具有代表性，并需要被粉碎至200目左右，以确保样品的均匀性。

样品制备：将破碎的样品放入样品杯中，并压实刮平表面。对于块状样品，应切割成薄片并确保表面平整。

样品称重：对于需要定量分析的样品，应精确称量其质量。

二、仪器准备

开机：打开X射线荧光光谱仪的电源，并启动计算机操作系统。

仪器校准：使用标准样品对仪器进行校准，以确保测试结果的准确性。

测试参数设置：根据待测样品的性质和测试要求，设置合适的测试参数，如电压、电流、扫描范围等。

三、样品测试

扫描样品：将准备好的样品放入样品杯中，并放置在样品台上。

开始测试：启动测试程序，输入样品信息（如托盘编号、样品编号等），开始测试。

监控测试过程：在测试过程中，密切关注测试进度和仪器状态，如有异常情况应及时处理。

四、数据处理与分析

数据处理：对采集到的原始数据进行处理，如去除背景干扰、平滑处理等。

元素分析：根据处理后的数据，使用相应的计算方法和数学模型对各元素进行分析，得出其含量。

结果验证：对分析结果进行验证，如检查分析结果的准确性和可靠性。如有需要，可以进行重复测试或使用其他方法进行验证。

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