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原子力显微镜(Atomic force microscopy，AFM)是一种以物理学原理为基础，通过扫描探针与样品表面原子相互作用而成像的新型表面分析仪器。它属于继光学显微镜、电子显微镜之后的三代显微镜。
原子力显微镜的基本原理是：将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖的尖*原子与样品表面原子间存在较微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息。
功能应用：
1、生物样品表面在纳米尺度下进行观测形貌及力学等物理特性测试；
2、在分子水平上实时动态地研究结构与功能的关系；
3、对溶液中生物分子表面的各种相互作用力进行测量；
4、在材料科学、纳米生物、物理学、化学、电子学、半导体等领域中的相关应用，对金属、半导体、陶瓷、有机物、高分子等样品表面在纳米尺度下进行观测形貌及力学等物理特性测试。
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