硅片表面光洁度检测设备-光泽度计IG-410的特点

使用近红外线作为光源，测量光泽度为1000（镜面反射率100%）。
这是一种便于现场作业的便捷类型，只需将与显示部分分离的测量部分放置在被摄体上即可进行测量。
无需预热。
它非常适合需要高水平表面光泽的产品的质量控制，例如汽车头灯等照明用反射器、复印机用反射器和硅晶圆。

• IG-410 能够测量金属等高光泽区域，
  是 IG 系列光泽度检查仪的新成员。测量范围为0至1000，比以前的型号大10倍。还可以测量镜面样品。 

• 紧凑轻巧的设计，方便现场测量，
  重量仅350g，方便携带。由于是一键式操作，因此可以轻松携带到生产现场进行测量。
  由于采用LED作为光源，因此无需担心光源的寿命。
  

• 可通过在 2 个量程之间切换来测量低光泽度。可
  在 0 至 100 和 0 至 1000 之间切换。每个范围都配有自己的校准板。
  IG-410 不仅可以测量高光泽金属，还可以测量低光泽区域，例如金属板上涂漆的样品。

应用实例

• 用于检查金属制品的表面光洁度

• 用于检查铝和不锈钢轧制板的外观

• 用于检查电镀产品的外观

• 用于检查硅片表面光洁度
  

*由于光泽度是通过光的反射来测量的，因此测量点必须平坦。