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塑料包装材料厚度是否均匀,是检测其各项性能指标的基础。包装材料厚度不均匀,会影响到其阻隔、拉伸强度等性能;对材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。
薄膜厚度测量仪,又被称为薄膜测厚仪、膜厚测试仪、薄膜厚度仪等,是一种用于测量薄膜、薄片、塑料片材、铝箔、铜箔、电池隔膜、纸张、纸板等材料厚度的仪器设备。
机械接触式薄膜测厚仪的测试原理,是通过位移传感器测试薄膜材料的厚度。在测试前,仪器的测量头落在设备砧板上,传感器读取测量头的初始位移值,测量头抬起后,将试样放置在砧板纸上,测量头以同样的压力落在试样上,传感器读取测量头的位移值,两次位移值之差则为试样的厚度值。
薄膜厚度测量仪薄膜测厚仪技术参数:
测试范围(标配):0~2mm
分辨率:0.1μm
重复性:0.4μm
测量范围(选配):0~6、0~12mm
测量间距:0~1000mm(可设定)
进样速度:1.5~80mm/s(可设定)
测量方式:机械接触式
薄膜测量压力及接触面积:17.5±1 kPa、50 mm2
纸张测量压力及接触面积:100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa(可选配置)、200 mm2
电源:220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz
外形尺寸:370mm(L)×350mm(W)×410mm(H)
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