用于半导体和硅的红外辐射温度计 IR-CAT 介绍

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来源：秋山科技（东莞）有限公司 2024年01月31日 16:39

用于半导体和硅的红外辐射温度计 IR-CAT 介绍

IR-CA系列是一款集成的固定式辐射温度计，配备数字温度显示、参数设置功能和测量值的外部输出。
共有低温型、中高温型、高性能型、超宽型等通用型以及按用途划分的17个型号，兼容多种非接触式测温字段。

半导体/硅片温度测量

可测量400℃至1200℃硅片温度的辐射温度计。采用使晶圆不透明的测量波长，减少加热器对背面的影响

模型	用于半导体/硅
格式	红外猫
检测元件	硅
测量波长	0.6～0.96μm
测量温度范围	400-800℃ (100) 500-1000℃ (200) 600-1200℃ (200)
准确率评估	200℃以下：±2℃ 200℃以上：测量值的±1%
再现性	0.5℃以内
解决	0.5℃
响应时间	0.04秒（95%）
测量直径/测量距离	可移动焦点测量距离：0.5m 至 ∞ 测量直径 = 测量距离/距离系数距离系数：100、200
瞄准	直接取景器
输出信号	4~20mA DC，隔离输出（无电阻500Ω以下）
通讯接口	RS-485（可选）
电源	24V直流
能量消耗	最大10VA
外形尺寸	宽150x高110x深66mm
大量的	约1.3公斤
其他的	数据处理软件：IR-VXC1

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