TEMP 2000A, 便携式发射率测量仪/反射率测量仪
本产品的TEMP 2000A手持式发射测量仪/反射率测量仪计是作为2005年NASA技术文件第23页中提到的老化Gier-Dunkle DB100的替代品。
TEMP 2000A便携式发射率测量仪/反射率测量仪,紧凑,重量轻,坚固耐用,符合人体工程学设计,易于在现场或实验室中使用,以确定环境温度总发射率。
实验室设置与样品放置在仪器顶部。
TEMP 2000A可以方便地在实验室(上图)中使用,其中样品可以放在仪器顶部左边,并在进行重复测量时方便移动。通过使用电池组和背带,TEMP 2000A可以用作便携式设备(下图)。
便携式使用测量混凝土制品
TEMP 2000A凭借*的光学系统提供了便携式发射率测量仪/反射率测量仪,其测量从小于3至大于35微米波长的总半球反射率,并且放置在光路中不会由于滤光器,窗口或涂层而受限制。 TEMP 2000A光学系统被设计为最小损耗,且促进和保持光学准直,并利用AZ技术获得得椭圆收集器,达到更好的紧凑性和便携性,获得高效率和测量精度。 TEMP 2000A在不再生产的Gier Dunkle DB-100 IR反射计**的基础上并根据ASTM E408标准改进性能和可维护性。
下表列出了TEMP 2000A的技术参数。
波长 | 小于3um 到 大于35um (不受过滤器,窗口等的限制) |
测量精度(镜面和漫射样品) | - 灰度样品:满量程的±1% |
重复性 | - 满量程的±0.5%或更好 |
样品类型 | 任何样品,包括箔,绝缘体等 |
样本大小和几何形状 | - 平坦表面:直径≥0.4英寸(1厘米) |
样品温度 | 室温环境 |
显示属性 | - 红外反射率 |
读数 | - 数字液晶面板仪表 |
测量范围(反射率) | 0.00 to 1.00 |
尺寸 | - 光学头:5.25(英寸)直径×6.8(英寸)长 |
重量 | - 光学头:5磅 |
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