铁谱分析技术与滤膜铁谱分析技术铁谱分析是识别磨损模式和机械故障根本原因的强大技术。铁谱分析是一个深入的、结论性的测试，因为它使用热处理技术和偏振光技术可以识别金属的不同类型、颗粒颜色、表面和形态，并可判断磨损产生原因和机理。铁谱根据谱片制备，可分为滤膜铁谱和分析铁谱。

       进行铁谱分析的最大缺点是它既耗时又需要依赖专业人士来进行分析。这种技能只有工作多年分析了大量铁谱图的专业技术人员才具有。铁谱技术需要与其他更快的筛选技术相结合才能获得成功。单独使用铁谱技术检测常规样品并不可靠和实际。

       SEM EDX技术使用非常高的放大率来观察和检查颗粒，并使用EDX装置对颗粒进行元素分析。与传统的金相显微镜相比，SEM的景深要大得多。这种景深增强意味着粒子可以在高放大倍数下保持聚焦，用户可得到更多的细节。与标准磨损颗粒分析类似，使用光学显微镜SEM EDX不适合进行常规样品分析。该仪器昂贵并且该技术涉及一些样品制备，例如对样品施加导电涂层以提高完整铁谱分析的分辨率。然而如果需要识别问题的根本原因或需要进一步确证，建议进行完整铁谱分析。