泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO技术参数

SURTRONIC DUO 粗糙度仪仪器特点：

• 快速测量在仪器底端接触工件瞬间，即可读出测量值。全部操作步骤仅需简单教授即可

• 携带方便DUO可应用于车间、实验室的测量。也可方便置于衣服口袋中或挂在腰间。

• 经外接口操作者可在距离被测工件1m处操作测量。

• 校准方便DUO具有自身校准标准，可预设标准值，通过LCD显示出来。

• 测针保护不用时，设“park”位置可**保护测针。

• 人体工程学设计

泰勒霍普森粗糙度仪传感器范围: 200um

泰勒霍普森粗糙度仪分辨率: 0.01um

不确定度: 读数的5%+0.1um (4uin)

传感器类型: 压电式

传感器接触力: 200mg

测针类型: 金刚石

测尖半径: 5um (200uin)

截止波长: 0.8mm±15% (0.03in±15%)

过滤类型: 2CR

测量行程: 5mm (0.2in)

测量速度: 2mm/sec (0.08in/sec)

显示单位: mm/ uin

电池寿命: 500小时/10000次操作

可测量参数: Ra; Rz (112/2916-03配置)

Ra; Rz; Rv; Rp; Rt (112/3115-01配置)

仪器尺寸: 125×80×38mm (4.92×*×1.5in)

重 量: 200g