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液晶面板表面缺陷及检测应用分析

来源:秋山科技(东莞)有限公司   2023年08月25日 15:28  

液晶面板表面缺陷及检测应用分析

薄膜显晶体管液晶显示器(TFT-LCD)具有高分辨率和功耗低等优点,因此被广泛应用于显示器行业。
但是显示屏的生产过程流程多、环境等因素,难以避免会出现缺陷显示屏,导致产品不良率较高。TFT-LCD显示屏的制作包括镀膜、刻蚀、显影、面板组合、灌晶封口和安装驱动芯片等工艺,复杂的工序导致缺陷的出现,常见的缺陷包括点缺陷,线缺陷和Mura缺陷。

“Mura”一词来源于日语,译为斑点、脏污,也被称为“云斑”,是显示缺陷中最难检测的缺陷之一。传统的Mura检测方法是通过人工视觉检查的方式实现的,主要采用裸眼辨别的方法。此方法效率低下,并且容易造成视觉疲劳,从而导致结果正确率降低。

基于机器视觉的液晶面板检测,可实现对液晶面板的各个生产工艺产生的缺陷进行检测,包括Array(阵列)工艺,CF(彩膜)工艺,CELL(成盒)工艺,Module(模组)工艺,可实现对crack(裂纹),broken(破损),chip(崩边),scratch(划痕),burr(毛刺),drop(水滴)等缺陷的有效检测区分。

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日本sena卤素表面检查灯185le

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日本sena lamp高照度卤素强光灯185LE屏幕面板检查灯

高照度照明设备(表面检查灯)185LE是目视检查晶圆、镜头、玻璃基板的表面等为目的的光源。

适合于TFT面板、CF(彩色滤光片),触摸屏制造等行业。

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