什么是波长扫描光源？

波长扫描的光源发出连续扫描波长的激光。适合形状 利用光学传感OFDR（光频域反射计）进行测量和位移测量 使用激光相干性的方法。OFDR方法也被广泛称为FMCW（调频 连续波）方法。

波长扫描光源用作在精度等广泛领域进行传感的光源 测量、振动测量、表面检测、OCT 等工业应用、医疗应用等 作为眼科OCT和血管内OCT，基础设施/工厂测量应用，例如 大型结构的位移/波动和长度测量。

安立的波长扫描光源通过连续执行来提供高相干波长的扫描光 以及在具有窄线宽的单个纵向模式下进行无跳模波长扫描。这些扫过的光 光源可用于更远的距离和更高的精度进行测量。

安立波长扫描光源通过光学排列改进了标准的利特曼排列，因此 MEMS扫描镜可用于实现高速波长扫描。在该光学系统中，该区域来自 MEMS扫描镜反射面的有效空腔端面由外腔， 在由腔长决定的多个垂直模式中，只有一种模式由波长获得 选择衍射光栅的选择性进行振荡。

安立波长扫掠光源概述

下图示意性地描绘了衍射光栅的波长选择性，由 MEMS扫描镜，以及所选振荡模式的变化。

安立波长扫描光源的振荡模式变化

特征

• 中心波长：1，550 nm（也可以支持1060 nm）

• 扫描频率 ： 150 Hz*1或 1，250 Hz*2

• 波长扫描宽度 ： 15 至 70 nm*1或 30 至 110 nm*2

• 平均光输出功率：10 mW以上

• 振荡模式：单纵向和无跳模

• 相干长度（参考值）：100m以上*1（Δλ=25 nm）， 10 m 或更长*2（Dl=30 nm）

*1 AQB5500P/AQB5500D*2 AQA5500P/AQA5500D

应用

精密厚度测量

• 光学元件厚度测量：测量玻璃和透镜等透明物体的厚度

• 薄膜和钢板的厚度测量和表面粗糙度测量

• 半导体晶圆的厚度测量

振动测量

• 旋转体振动宽度测量：测量钻头和圆盘的偏心率和表面跳动， 等。

• 振动体振动宽度测量和频率测量：扬声器等

表面检测

• 检测工件是否有毛刺和划痕

• 焊接表面的精细凸块测量

OCT（光学相干断层扫描）

OCT利用光学干涉对物体和人体内部进行断层扫描，也可以 与光束扫描一起使用，以详细测量三维结构。它利用近红外光来执行 非破坏性和非接触式成像，用于检测薄膜产品的缺陷和检测 用于眼科治疗。

工业华侨城

• 树脂/塑料产品的厚度测量和粘合区域的检查

• 半导体晶圆的厚度测量

华侨城医学

• 眼轴长度测量仪（生物计）

• 血管内OCT：比IVUS（血管内超声）更高分辨率的断层扫描