什么是波长扫描光源?
波长扫描的光源发出连续扫描波长的激光。适合形状 利用光学传感OFDR(光频域反射计)进行测量和位移测量 使用激光相干性的方法。OFDR方法也被广泛称为FMCW(调频 连续波)方法。
波长扫描光源用作在精度等广泛领域进行传感的光源 测量、振动测量、表面检测、OCT 等工业应用、医疗应用等 作为眼科OCT和血管内OCT,基础设施/工厂测量应用,例如 大型结构的位移/波动和长度测量。
安立的波长扫描光源通过连续执行来提供高相干波长的扫描光 以及在具有窄线宽的单个纵向模式下进行无跳模波长扫描。这些扫过的光 光源可用于更远的距离和更高的精度进行测量。
安立波长扫描光源通过光学排列改进了标准的利特曼排列,因此 MEMS扫描镜可用于实现高速波长扫描。在该光学系统中,该区域来自 MEMS扫描镜反射面的有效空腔端面由外腔, 在由腔长决定的多个垂直模式中,只有一种模式由波长获得 选择衍射光栅的选择性进行振荡。
安立波长扫掠光源概述
下图示意性地描绘了衍射光栅的波长选择性,由 MEMS扫描镜,以及所选振荡模式的变化。
安立波长扫描光源的振荡模式变化
特征
中心波长:1,550 nm(也可以支持1060 nm)
扫描频率 : 150 Hz*1或 1,250 Hz*2
波长扫描宽度 : 15 至 70 nm*1或 30 至 110 nm*2
平均光输出功率:10 mW以上
振荡模式:单纵向和无跳模
相干长度(参考值):100m以上*1(Δλ=25 nm), 10 m 或更长*2(Dl=30 nm)
*1 AQB5500P/AQB5500D*2 AQA5500P/AQA5500D
应用
精密厚度测量
光学元件厚度测量:测量玻璃和透镜等透明物体的厚度
薄膜和钢板的厚度测量和表面粗糙度测量
半导体晶圆的厚度测量
振动测量
旋转体振动宽度测量:测量钻头和圆盘的偏心率和表面跳动, 等。
振动体振动宽度测量和频率测量:扬声器等
表面检测
检测工件是否有毛刺和划痕
焊接表面的精细凸块测量
OCT(光学相干断层扫描)
OCT利用光学干涉对物体和人体内部进行断层扫描,也可以 与光束扫描一起使用,以详细测量三维结构。它利用近红外光来执行 非破坏性和非接触式成像,用于检测薄膜产品的缺陷和检测 用于眼科治疗。
工业华侨城
树脂/塑料产品的厚度测量和粘合区域的检查
半导体晶圆的厚度测量
华侨城医学
眼轴长度测量仪(生物计)
血管内OCT:比IVUS(血管内超声)更高分辨率的断层扫描
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