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磁粉探伤仪 CEE-I 磁粉探伤仪

来源:深圳市欧野电子有限公司   2011年08月29日 15:43  

CEE-I磁粉探伤仪

特点:CEE-I磁粉探伤仪是小型便携式无损检测仪器,具有交直流两种输出功能。采用可控硅组成无触点的电子、电路、噪音小、寿命长、体积小、重量轻、提升力大等优点。
技术指标:
电源电压:交流220V
输出电压:交流36V,直流8V
提升力:马蹄(A型)探头交流≥4kg 电磁轭(D型)探头交流≥6kg 直流36kg 环型(O型)探头交流1800TA
主机重量:5.5kg
外型尺寸:230×110×165mm
 
 
 
 
深圳欧野电子有限公司
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