非接触式光学轮廓仪CCI HD
白光干预仪/非接触式轮廓仪引见:
CCI HD 是一种非接触式光学 3D 轮廓仪,具有丈量薄膜和厚膜的功用。 它采用享有**的新型关联算法,来查找由我们的精细光学扫描安装产生的干预图的相干峰和相位。 这种新型的 CCI HD 整合了世界**的非接触式尺寸丈量功用和先进的厚薄膜丈量技术。
CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度丈量功用,还能够提供两品种型的膜厚丈量。 近年来厚膜剖析被用于研讨厚度至约 1.5 微米的半透明涂料;丈量的厚度限制取决于资料的折射率和标的物的 NA。 丈量较薄的涂层被证明尴尬度更高。如今经过干预丈量法能够研讨厚度至 50 纳米(同样取决于折射率)的薄膜涂层。 采用这种新型办法,能够在单次丈量中研讨膜厚、界面粗糙度、针孔缺陷以及薄涂层外表的剥离等特性。
免责声明
- 凡本网注明“来源:化工仪器网”的所有作品,均为浙江兴旺宝明通网络有限公司-化工仪器网合法拥有版权或有权使用的作品,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的,应在授权范围内使用,并注明“来源:化工仪器网”。违反上述声明者,本网将追究其相关法律责任。
- 本网转载并注明自其他来源(非化工仪器网)的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品第一来源,并自负版权等法律责任。
- 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。