FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列荧光镀层测厚仪引见：

       多用处的镀层厚度丈量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50 nm Au或100 μmSn）都经过选择好的高压滤片组合很好地丈量。微聚焦管能够到达在很短的丈量间隔内小到100 μm的丈量点大小。高达数kcps的计数率能够被比例接纳器接纳到。关于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列来说，X射线源和接纳器位于丈量室的下方，这样能够快速便当地定位样品。除此以外，视频窗口也能够辅助定位，仪器前方的大控制台简化了操作，特别是在日常消费中丈量大量部件时特别有用。虽然构造紧凑，但这些仪器都有大容量的丈量室，这样大的物品也能够丈量。壳体的开槽设计（C型槽）能够丈量诸如印刷线路板类大而平整的样品，即便这些样品可能无法*放入丈量室，样品直接放置在平整的支撑台上，或者定位精度更高的手动XY工作台上。

XULM 240介绍：

       XULM适合测量小的结构。它配备了微聚焦管，测量点小可达约100μｍ，同时比例接收器仍然可以保持相对高的计数率。即使很短的测量时间也可以达到很好的重复精度。此外，XULM配备了可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地为不同的测量应用创造佳的激励条件。