电子材料中有害重金属Cd和Pb的分析案例

电子材料中有害重金属Cd和Pb的分析案例

背景

近年来，对环境问题的关注日益增加，镉和铅被用作稳定剂，特别是在塑料阻燃剂和电线电缆涂层材料中。欧盟内部制定了 WHEE（废弃电气电子设备）和 RoHS（限制在电气和电子设备中使用某些有害物质）等法规，有害物质（汞、镉、铅、六价铬、PBB・PBDE) 的使用受到限制。这次，我们将介绍使用能量色散 X 射线荧光光谱仪 (OURSTEX150RoHS) 轻松进行的低浓度 Cd/Pb 分析。

测量条件

• 测量装置：OURSTEX150RoHS

• 探测器：SDD（硅漂移探测器）

• 管电压/电流：48kV-AUTO

测量结果

图 1 显示了 Cd 和 Pb 的测量曲线。样品是在氯乙烯树脂中添加 Cd 和 Pb 制成的糊状物。与空白样品相比，即使在低浓度下，33ppm Cd-Kα 和 43ppm Pb-Lα 也清楚地显示出峰。图 2 显示了每个的校准曲线数据。通过设置 ROI 范围并使用具有背景减法的综合强度获得标准曲线。此外，表 1 显示了每个测量时间的检测下限。

概括

OURSTEX 150RoHS 结构紧凑，不需要液氮或冷却水，因此具有成本效益。另外，由于使用荧光X射线分析法，样品处理容易，测定也容易。此外，SDD检测器、钨管和特殊滤光片的使用可以同时分析镉和铅，灵敏度高，测量时间短。该设备适用于电线包覆剂和各种塑料等电子零件中微量重元素的分析。

推荐设备

能量色散X射线荧光光谱仪“OURSTEX160RoHS”