决定EDXRF测厚仪性能的重要参数

　　EDXRF测厚仪可用于检测多层的成分及厚度，除了计算单层物质的成分分析还要去计算多层成分及厚度，同时会遇到微小的样品位置、复杂的样品的形状(改变形状再测试厚度会变化)、上下层有相同元素等等检测难题，所以它比其它EDXRF应用更加复杂，这也是为什么EDXRF做ROHS重金属、合金分析、贵金属检测等等的厂家很多，做测厚仪的很少、做得很好的很少的原因。决定EDXRF测厚仪性能的重要参数是什么?跟着X荧光光谱测厚仪厂家一六仪器来看一下吧。

　　决定EDXRF测厚仪性能的重要参数有三点：最小测量面积;可否测量异形凹槽件;多镀层，重复镀层检测能力。近年来国内其他厂商得到国外Fp算法并且学会了应用，目前有二、三家可以检测简单的多层镀层，但是最小测量面积都在直径0.5mm以上，无法变焦只能通过对焦应付一些凹凸弯曲落差不大的样品，也无法测试重复镀层和轻元素。

　　江苏一六仪器有限公司坐落于苏州昆山市，是一家专注于光谱分析仪器研发、生产的企业。公司的研发团队与海内外专家通力合作，开创出了全新一代EFP算法，及高均值聚集光源的微光聚集技术，在微小检测面、异型探测面、多层多元素与多层同元素的检测上，都具备好的表现。

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