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霍尔效应测厚仪是一种便携式操作方便的厚度测量仪，利用磁学方法对非铁磁性材料进行快速、可重复的厚度测量。测厚时，将磁探头置于被测材料的一面，而将相应的钢珠置于另一面，探头上的霍尔效应传感器即可测出探头尖到钢珠的距离，从而给出数字厚度读数。可用于非磁性材料测厚如：瓶盖，玻璃容器，铝材，复合材料，塑料瓶等，应用领域包括：产品包装厂，乳制品加工厂，食品加工厂，航天检测部门，铝材加工厂，复合材料加工厂，塑胶加工厂，玻璃容器加工厂等等。
霍尔效应测厚仪是利用磁场作用于载流金属导体、半导体中的载流子时，产生横向电位差的物理现象。当测厚仪电流通过金属箔片时，若在垂直于电流的方向施加磁场，则金属箔片两侧面会出现横向电位差。半导体中的霍尔效应比金属箔片中更为明显，而铁磁金属在居里温度以下将呈现较强的霍尔效应。如果把霍尔元件集成的开关按预定位置有规律地布置在测厚仪上，当装在运动物体上的永磁体经过它时，可以从测量电路上测得脉冲信号。根据脉冲信号列可以传感出该运动物体的位移。若测出单位时间内发出的脉冲数，则可以确定其运动速度。霍尔效应测厚仪采用非破坏性的测量方式，快速测量形状复杂和不同大小的物体的各种位置，即使是死角及沟、槽。
MiniTest 7200/7400 FH霍尔效应测厚仪适用于非磁性材料的测量，适用于包装材料，如瓶子，玻璃或塑料容器，对于复合材料，在航空或汽车行业里的形状复杂的铝或者钛部件。
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