结合各种识别工具，实现对所有粒子的测量和分析

通过读取SEM或TEM拍摄的图像并识别目标颗粒，自动计算粒度分布并量化颗粒形状。
通过使用手写板的手动分析工具，可以轻松识别形状复杂的颗粒和聚集的颗粒。

Mac-View Version.5 的新功能和改进

-在粒子采集模式中增加了“针形”

Mac-View Version.5 的特点

■ 凝聚粒子的一次粒径分析

可以评价凝集粒子的初级粒径，这在过去是困难的。

■ 纳米粒子的评价

只要有尺度信息，无论颗粒大小如何，都可以进行分析。

■ 多方面分析/评估

可以自动测量粒度分布并分析颗粒形状（圆度、纵横比等）。另外，可利用的数据丰富，可以评价凝聚粒子的初级粒子。

■ 易于操作

不需要特别的知识，操作简单，与作业人员的熟练程度无关。

■ 无需昂贵的资本投资

只要您准备好图像（jpeg、位图），您就可以在 PC 上安装软件后立即使用它。

应用实例

纳米粒子、凝聚粒子、造粒体、烧结体截面、乳化粒径等

支持软件

■ 粉体分析综合软件Mac-PIAS

Mac-PIAS是一个全新维度的综合粉体分析软件，可以对任何方法测得的“粒度分布数据”进行统一管理和分析。

■ 筛分试验数据分析软件Macmesh

Macmesh 是一种工具，可以消除筛选测试中的人为错误，数据量大，工作效率高。