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IRA超短脉冲测量仪（扩展扫描范围）是专门为测量超快放大器和振荡器产生的超快辐射脉冲宽度和近对比度而开发的。还有一种特殊的IRA系统模型，适用于中红外激光源。IRA包括光学机械组件和电子设备与USB接口。系统易于操作，并包括一套完整的数据收集和分析用户友好的软件工具。逼近Gaussian和Sech2线性的也可以。光学机械组件由参考脉冲的额外延迟光学箱和机械套件组成。
1) 移除XPW晶体，使用入射光阑和厂家提供的辅助小孔进行光路的对准。验证是否对准的方法是看光谱仪上的强度是否*。注意：厂家提供的小孔背面贴有四分之一波片，因此需要旋转波片使得初始强度合适
2) 移除小孔，此时由于偏振元件的正交性，光谱仪上应该没有信号，或者非常之微弱。如果有较强的信号，说明偏振片的方向有所旋转，需要校正一下。如果发现有微弱的信号，并且有光谱干涉的现象，说明双折射片的角度不正确，需要旋转一下，祛除干涉条纹。
3) 放入XPW晶体，此时光谱仪上应该有一个相对光滑的光谱出现。当然，这是建立在脉冲比较优化的前提下。如果信号较弱，需要调节一下激光系统中的脉冲压缩器直到获得*的光谱强度信号和最宽的光谱宽度。
4) 最后一步是利用双折射片产生待测信号，适当旋转双折射片的角度，产生一个调制深度适中（笔者的经验大约在30%）的干涉图样。
5) 此时，Wizzler界面上应该会给出一个详细的脉冲宽度数值和相位信息。
1) 移除XPW晶体，使用入射光阑和厂家提供的辅助小孔进行光路的对准。验证是否对准的方法是看光谱仪上的强度是否*。注意：厂家提供的小孔背面贴有四分之一波片，因此需要旋转波片使得初始强度合适
2) 移除小孔，此时由于偏振元件的正交性，光谱仪上应该没有信号，或者非常之微弱。如果有较强的信号，说明偏振片的方向有所旋转，需要校正一下。如果发现有微弱的信号，并且有光谱干涉的现象，说明双折射片的角度不正确，需要旋转一下，祛除干涉条纹。
3) 放入XPW晶体，此时光谱仪上应该有一个相对光滑的光谱出现。当然，这是建立在脉冲比较优化的前提下。如果信号较弱，需要调节一下激光系统中的脉冲压缩器直到获得*的光谱强度信号和最宽的光谱宽度。
4) 最后一步是利用双折射片产生待测信号，适当旋转双折射片的角度，产生一个调制深度适中（笔者的经验大约在30%）的干涉图样。
5) 此时，Wizzler界面上应该会给出一个详细的脉冲宽度数值和相位信息。
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