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进口QNix8500涂层测厚仪可配多种探头,精准测量

来源:南京南拓检测仪器有限公司   2021年07月19日 09:15  

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进口QNix8500涂层测厚仪可配多种探头,精准测量

技术参数:

基   体

Fe、NFe、NFe\NFe

探头形式

一体、有线分体、无线分体

显   示

LCD液 晶 显 示

测量范围

0-2000μm
0-5000μm

测量精度

0-2000μm:  ≤±2%
2000-5000μm:≤±3%

*小基体

Fe:10mm×10mm   NFe:6mm×6mm

*薄基体

Fe:0.2mm    NFe:0.05mm

 *小曲率  

凸半径:5mm    凹半径:30mm

储存温度

-10℃ --- 60℃

温度补偿范围

0℃ --- 60℃

电   源

2节1.5V干电池

尺   寸

124mm×67mm×33mm

重   量

120g(含电池及探头)

存   储

一个数据组,30000个测量值

数据传输

通过USB模块和电脑无线传输

统计功能

平均值,*大值,*小值,标准偏差


产品优点:

*只需调零,无需校准 

*测量精度高 

*一体分体通用 

*可配多种探头 

*中英文菜单操作 

*智能化 

*带存储,并可连计算机对数据进行处理分析 

*可连接薄镀层探头,对极薄的镀层厚度测量,误差小于±3um


可选探头:

Fe铁基探头: 0-2000μm 0-5000μm 

NFe非铁基探头: 0-2000μm 0-5000μm 

NFe/Fe两用探头:0-2000μm 0-5000μm 

无线传输探头 

薄镀层探头


QNix8500涂层测厚仪

Der QNix® 8500 ist unser modulares Schichtdickenmessgerät mit Messwert­speicher, Statistikfunktionen, Softwareauswertung und austauschbaren Sonden. Es eignet sich für nahezu jedes Anwendungsgebiet der Schichtdicken­messung und ist sehr robust. Als QNix®-Anwender profitieren Sie zudem von der einfachen Bedienung – und selbstverständlich von präzisen und schnellen Messergebnissen.


Ihre Anforderungen

Benötigen Sie ein flexibles Schichtdickenmessgerät mit dem Sie unterschiedliche Schichtdickenmessungen durchführen – und das Sie auch nachträglich an unterschiedliche Aufgaben anpassen können? Sie möchten im Rahmen interner Qualitätssicherung oder aufgrund von Kundenvorgaben die gemessene Schichtdicke langfristig nachvollziehbar dokumentieren?


Dann ist der QNix® 8500 für Messungen auf Stahl, Eisen (Fe) und Nichteisen­metallen (NFe) wie Aluminium, Zink, Kupfer oder Messing das richtige Gerät für Sie. Auch bei besonderen Messanforderungen unterstützt Sie der QNix® 8500 und liefert Ihnen bei einfacher Bedienung schnelle und präzise Messergebnisse.


Unser modulares Konzept

Das digitale Schnittstellenkonzept von QNix® macht Ihr Schichtdickenmessgerät zukunftsfähig. Erweitern Sie Ihren QNix® 8500 durch:


Sonden mit einem größeren Messbereich

Sonden für andere Substratarten

Funksonden für Messungen an für Personen schwer zugänglichen Stellen

Sonden zur Messung von dünnen Schichten 


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