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LE-373膜厚仪的校准方法

来源:珠海天创仪器有限公司   2021年06月23日 09:15  

LE-373膜厚仪的校准方法

1.基材校准,每台仪器随货都有附送一块校零板,在确认探头已安装好的情况下,按[POWER]键可开机,开机后[→]键一次,将光标移动至[调整],按[ENTER]键可进入校正程序。测量基材板3-5次后,按[ENTER]键,屏幕显示“0.0”,按[ENTER]键.
2.膜片校准,校准的时候按照标准膜片先薄后厚的方式依次选择。具体操作方式如下:把第一块标准膜片放在基材板上测量3-5次后,按[ENTER]键,屏幕显示厚度值。若和标准膜片相同,按[ENTER]键;若不同,按[DEL]键、输入标准膜片厚度值后按[ENTER]键。校准完一片膜片后,则继续选择更厚的规格依次按照上面步骤进行。

特点

1、373系列作为300J/330J/370系列的升级版,它具有更、更广泛的用途,所增设的多种新功能也更容易得到广大用户的认可和接受,在性价比上更显优势;

2、有手动和自动两种开关机模式;四种语言菜单显示;

3、本机配备的测头曲面器,可用于测量各种异型基体:如弧形、弯型、柱形、球状、管型等;

4、内存数据达39000个,100个储存通道,能更有效、更简便地直接调取各种基体的测量数据,免去客户因多异型、多材质的基体在校正零点时的烦恼。

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