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贝莱克移动光谱仪光源激发条件的选择应根据分析对象确定。不同样品在不同光源下的预燃时间不同，这主要取决于样品在火花放电过程中的蒸发过程，而不仅仅与光源的能量有关。如果你发现同一个样本中每个测试的结果都很不一样，说明结果有问题。同一样品的结果不应有显著差异。
1.贝莱奇直接读取光谱仪， ical校准失败维护的作弊手段，使样品中燃烧点的组织结构更加均匀，从而消除了元素间干扰和元素间组合的影响。
2.火花放电对大多数元素具有良好的再现性，
3.电弧放电的重现性比火花放电差2-3倍，但微量元素的检出限低得多。
如果贝莱克移动光谱仪的真空值下降很快，看真空值曲线是否平缓。否则，如果有漏气，检查真空室真空盖的密封性能，更换密封圈或对角紧固螺钉，并分析光强值下降的原因。镜头脏入射狭缝老化处理方法污染光纤：擦拭镜头，清洁狭缝，更换光纤。应注意标准设定误差等。冶炼和控制标准样品时，应适当规定各元素的含量，使各样品的基体成分大致相等。
a)控制火花的直读光谱仪样品很难满足多元素分析的要求，所以尽量使控制样品的含量和组成接近分析样品的含量和组成。
b)对于特殊情况
经常使用与分析样品的冶金过程和物理状态一致的对照样品来控制样品的分析结果，通道负高压分8步调节，大大提高了通道的利用率和分析不同材料时采用分析谱线的线性范围，减少了采用的通道数，降低了成本，可用于分析：Fe、Co、Cu、Ni、al、Pb、Mg、Zn、Sn等基体。
如何排除光谱仪分析结果不准确的故障
通过尽可能平稳地研磨或加工来准备重新校准的样品。导航到光谱仪软件(IEFE100或Al000)中的重新校准问题。遵循软件提示的特定顺序。不要偏离软件序列要求的样本。使用相同的燃点，对重新校准过程中的五个样本连续进行了五次分析。分析的任何重新校准标准的相对标准偏差不得超过5。
如果超过5RSD，删除分析结果，并从步骤1重试该过程。在样品的激发过程中，不需要用水冷却激发的台，样品可以连续分析以获得更好的数据。直读式光谱仪测控系统采用单板机进行测控，并与上位机进行数据交换，提高运行速度。各通道光电倍增管的负高压由计算机软件调节。
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