micro-epsilo工业标准光谱共焦传感器控制器lDT 242x 

实际应用中各种被测表面的高精度位移和距离测量

源于光谱共焦测量原理，用户可以实现超高精度位移和距离测量--同时适用于漫反射和镜面被测物。超小的测量光斑可以识别微小的几何尺寸和结构。同轴测量光路避免了阴影遮挡带来的问题，使光谱共焦位移传感器可以用于窄缝和深孔。采用90°出光版本光谱共焦传感器，客户可以测量深孔或凹槽内壁几何尺寸。



透明物体单侧厚度测量
源于光谱共焦测量原理，用户可以从一侧测量透明物体的厚度。仅用一支光谱共焦位移传感器，用户可以获得微米级别测量精度。控制器预存可编辑，可扩展的材料库。材料的光学特性，如折射率可以通过网络界面存储和编辑，无需安装额外软件。多峰值测量允许多6个峰值，可以测量多层被测物（如夹层玻璃）的厚度。



高分辨率和高测量速度
光谱共焦控制器提供出色的信噪比，确保高精度测量。作为目前的控制器之一，德国米铱光谱共焦位移传感器特别适合高动态检测任务。快速表面补光技术可以快速调节光谱共焦传感器的曝光时间，以实现对于反光特性快速变化表面的稳定测量。输出端口包括RS422, Ethernet或EtherCAT以及模拟量输出。




使用简便的网络界面
源自客户友好的网络界面，光谱共焦位移传感器全部配置过程无需额外软件。网络界面可以通过Ethernet连接，提供设置和配置选项。材料特性被存储于可扩展材料数据库中。