产品特点：

■电阻率测量：大屏幕清晰显示硅料电阻率值，方便检料快速分选

■ 电流测量：本仪器采用芯片术，可通过调节硅材料厚度，仪器可直接锁定电流，使测量使用更加简便准确，本仪器可根据需要配备测试平台， 利用测试平台可以测试薄片电阻率

■ 四探针：次测量，显示整电阻率值。

■ 采用了恒流源术，能够满足宽范围的电阻率测试要求

    推荐作条件:

■ 温度：23±2℃

■ 湿度：60%~70%

■ 无强磁场、不与频设备邻近

 术标:

　低阻电阻率量程：0.0001~0.0999Ω﹡㎝　

　低阻测量度：准确到千分位（即准确到小数点后四位）

注：低阻般用于测量低于0.1.0Ω﹡㎝以下硅料，如母合金，于0.1.0Ω﹡㎝

般用阻测量。

使用方法：

1， 接好电源线，将仪器接上220V交流电，供电，若无电则需要检查或更换在仪器后面的电源插头处的保险丝，规格为1A,或检查电源线是否插好。

2，面板数显表测量时显示为电阻率值，按键调节开关调节硅材料厚度，硅材料厚度小于3.98mm按实际厚度对照厚度调节按钮调节，如2.18就调到218，厚度大于3.98的都调到3。98，厚度调好后选择阻或低阻可直接测试即可

测量电阻率：

1校厚：）四探针针头压住待测样片，根据所测硅料厚度调动按钮至所要求厚度，

测试四探针笔：

1般情况下，更换钢针之类，不需要拆开探头，只需要用拔出要更换的钢针，再重新安装新针，如果断针在孔内并且不拆开难以取出，须按照以下步骤行操作：

A松开笔身尾端侧面的固定小螺丝，轻轻脱下尾航空插口，保证探针头旋转时同步旋转，防止扭线断线，短接，

B轻轻拧开探针头子，然后小心将铜片拉出，记住七片缘片与铜片之间的位置，（四片铜片每片见夹片缘片，两边的铜片外侧各两片），将断针从铜片卡口座里取下即可，

C特别注意定不能将铜片取下时的位置错乱，铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序字排列，并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列，以免短接。

D安装时铜片及缘片按照拆下时的排列轻轻塞探针头子，并将探针头子拧紧，再将尾航空头插上，并且旋紧小螺丝，

E将针装好，注意针头针尾方向，尖头为探针头

注意事项：

1仪器操作前请您仔细阅读使用说明书，规范操作。

2轻拿轻放，避免仪器震动，水平放置，垂直测量，

3仪器不使用时请切断电源，连接线无需经常拔下，避免灰尘入航空插引起短接等现象，

4探针笔测试结束，套好护套，避免人为断针，