在购买手持式XRF分析仪时，确定需要硅漂移探测器（SDD）还是PIN探测器是您需要做出的首要选择之一。

奥林巴斯Vanta Element XRF系列中的两款分析仪就配备了两种不同的探测器：Vanta Element分析仪装配有PIN探测器，而Vanta Element-S分析仪装配有SDD探测器。

SDD对比PIN：它们之间有什么差别？

硅漂移检测器（SDD）是一种较新的技术，其每秒钟的X射线计数率比PIN探测器大约多10倍。SDD探测器的分辨率也比PIN探测器大约低40 eV。不过，伴随着SDD性能的提高是成本的增加。

在确定哪种探测器更适合您的时候，您需要考虑打算如何使用XRF分析仪。在此要问您两个重要的问题：

1、您是否需要测量一些轻元素，如：镁（Mg）、铝（Al）、硅（Si）、磷（P）、硫（S）、氯（Cl）、钾（K）或钙（Ca）?

这些较轻元素的定量性检测只能由装配有SDD探测器的分析仪完成。许多人因此错误地认为不能使用装配了PIN探测器的分析仪对铝合金进行分拣。但是，配备了PIN探测器的分析仪可以基于较重元素（如：铜、铬或铁）的含量对许多铝合号进行分拣。当然要进行更细微的区分，如：镁含量不同的6061铝和6063铝，需要使用配备了SDD探测器的分析仪。

2、您是否需要较低的检出限？

SDD探测器的检出限（LOD）通常比PIN探测器低约3倍。SDD探测器也比PIN探测器的计数率高，因此具有更高的精密度和灵敏度。

哪种分析仪更适合您？

我们希望上面的问题已经帮助您确定了使用哪种探测器，这意味着您向购买一款合适分析仪的目标又迈近了一步。

如果您需要SDD探测器，那么您可能需要详细了解我们的Vanta Element-S手持式XRF分析仪，这款价格实惠的分析仪可以探测轻元素，并对合金进行辨别。

这款分析仪可以在几秒钟之内快速、地辨别镁（Mg）、铝（Al）和硅（Si）元素。分析仪的SDD探测器还可以区分相似的合号，如：303和304不锈钢，6061和1100铝，以及6063和1100铝。这款分析仪可以有效地测量黑色金属、铝、铜、不锈钢、镍和金的含量，是完成废料回收、基本PMI（材料成分辨别）、金属制造和贵金属识别等应用的理想工具。

Vanta Element-S分析仪

如果您需要PIN探测器，那么请您仔细了解一下我们的初级Vanta Element分析仪，这款价格实惠的分析仪可以对合金进行辨别。

无论您选择哪款分析仪，您都可以放心使用，因为两款分析仪都具有使Vanta系列分析仪声名远扬的基本特性：检测迅速，结果可靠，坚固耐用，连通性好，而且其操作便捷性堪比智能手机。

两款分析仪都具有以下优势特性：

• 符合IP54评级标准，具有防尘、防潮的特性。
• 通过了坠落测试（MIL-STD-810G），可避免分析仪在坠落时受到损坏，从而减少了对分析仪进行高成本维修的需求。
• Axon技术有助于迅速可靠地完成检测。
• 借助奥林巴斯科学云系统 ，可以实现云连接和现代化的数据共享。

如果您还是不太确定SDD和PIN探测器之间的差别，或者对XRF技术还有其他疑问，请不要迟疑，向我们寻求帮助！