电子天平的日校要做几个点、各几次称量?
再次强调日校的目的不是考查准确性,而是考查天平是否发生了漂移,所以所谓多点的日校是没有意义的。理想状态下,就是砝码重量与测量值的函数呈一条斜率为1的直线,只不过是不经过原点,这个截距就是天平的漂移值,也就是线跑偏了。
日校也不是做精密度,所以也没有必要做那么多次,但为了发现问题,三次称量是有必要的。
日校要做四角吗?
这部分工作在确认时作一般就可以了,除非有异常发生。相信不会有人在使用天平时,可着一个角去“造"。
日校砝码的选择和砝码的计数?
日校砝码应选择合适精度的砝码,以确保其精度和不确定度不影响天平的日校。一般万分之一及更高精度的天平宜选择E2级砝码,千分之一到克级天平可选择F1到F2级砝码,生产系统可使用M级砝码。
砝码宜选择日常经常称量的重量,如果你一定要有个范围的话,可以使用日常的大和小重量。
而对于砝码是按标示值去计,还是按照检定值去计,可以说使用检定值一定是没有问题的,但在砝码大允许误差远小于日校范围时,则没有必要使用检定值了,标示值则更利于计算和判定。
日校和校准哪个在先?
有个错误的操作是,有人在做日校时,首先进行了校准。那么他的大问题是,他可能会掩盖了两次日校之间天平已经发生了偏离的可能性。所以正确的操作是,只有当系统发生了偏离,且这个偏离是你所不希望的(不是不可接受的),这时你就要做校准了,校准之后再重新做日校。
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