HORIBA荧光寿命测试系统-FluoroCube-JY

HORIBA Scientific（Jobin Yvon光谱技术）—-荧光光谱仪器的领dao者，提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。

荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外，可见，或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒，或更长的寿命范围。

HORIBA Scientific提供的研究级荧光寿命光谱仪有模块化或紧凑型设计，可按应用需求定制光谱仪。

Fluorocube将xin的迷你化光源和检测技术与成熟的TCSPC电子系统，及自动化操作结合起来，提供樶灵活和界面友好的光子计数寿命系统。

可选附件

• 激发/发射单色仪：Seya-Namioka型，波长可调（200~800 nm），与样品仓盖之间集成安全锁，同步手动调节狭缝宽度（1~32nm）
• 四位光束控制反射镜（可选）
• 偏振器
• 红外扩展 PPD 模块 (例如PPD-850C 或 PPD-900C)
• NIR检测器（~1700nm）
• 固体样品支架
• 低温附件
• 低荧光背景滤光片

技术参数：

• 寿命范围从皮秒至秒
• 基于滤光片实现波长选择(可选激发/发射单色仪)
• 外循环液体控温样品架
• PPD 光子检测模块（标配）
• 检测器范围185nm-650nm，可升级至850nm（与样品仓盖之间配有安全锁）
• Fluorocub计时电子装置，皮秒到秒寿命范围（依赖于激发光源）
• 综合分析软件
• 可选偏振器测量自旋相关时间
• NanoLED和SpectraLED二极管激发光源覆盖全波长范围

HORIBA荧光寿命测试系统-FluoroCube-JY特点

★ 灵敏度高：单光子计数技术
★ 准确性好：计时电路无需校正
★ 灵活性强：可选多种光源，寿命响应范围宽
★ 模块化：可以根据需要定制模块配件
★ 方便性：全电脑控制，易于操作